Приборы и методы сканирующей электронной микроскопии для исследования и модификации поверхностей

Free Download

Authors: Быков В.А.

Size: 18 MB (18952082 bytes)

Pages: 393/393

File format: pdf

Language: Russian

Publishing Year: 2000

Direct Download: Coming soon..

Download link:

Category: Technique , Electronics

Быков В.А.

Reviews

There are no reviews yet.

Be the first to review “Приборы и методы сканирующей электронной микроскопии для исследования и модификации поверхностей”

You must be logged in to post a review.